Contract Award For Scanning Electron Microscopes – Aquisição De 1 (Um) Sistema De Microsco...

Contract Award Notice

Work Detail

Contract Award For Scanning Electron Microscopes – Aquisição De 1 (Um) Sistema De Microscopia Duplo De Feixe De Iões Focalizado (Fib) Acoplado A Microscópio Eletrónico De Varrimento Por Emissão De Campo (Feg-Sem) Para O Laboratório Associado Ciceco Instituto De Materiais De Aveiro Acquisition Of 1 (One) Double Focused Ion Beam (Fib) Microscopy System Coupled To A Field Emission Scanning Electron Microscope (Feg-Sem) For The Associated Laboratory Ciceco – Institute Of Materials Of Aveiro

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